著作權登記問題

著作權登記問題

    我國自民國八十七年一月二十一日起正式廢止著作權『登記註冊制度』，依世界各國之制度趨勢修正為『創作保護制度』，此舉表示著作人於著作完成後即享有著作權，不必向任何機關登記註冊。這是尊重著作人創作的保護制度，但也代表若遇到訴訟問題，著作人必須自己負起舉證之責任。許多國家雖然早已經為『創作保護制度』，但並未廢除著作權登記的制度，還是設有政府單位接受著作權登記(EX:美國、日本、大陸、韓國等國)，其目的就是為了證明著作的時間與著作人身分。但台灣雖然已修正為『創作保護制度』，但也同時廢除了著作權登記服務，這實在是一個錯誤的政策，雖參考世界各國的做法但是只學了一半，結果就是讓著作人必須自己負起舉證責任，增加了著作人的舉證成本與時間精力。

    因此台灣目前才會有一些民間單位做著作權公證登記的服務，著作權法雖規定，著作人於著作完成後即享有著作權，難道任何人拿到任何資料，任意寫上日期，就可以說他就是最早的創作人嗎?當然不是，所以必須要舉證，著作權法只是在立法意義上擴大保障著作人的權力，但真正著作權的執行還是必須經過法院的判決，所以著作證據的證明力是很重要的。

    目前有「財團法人台灣經濟科技發展研究院」及「中華保護智慧財產權協會」等民間單位提供著作權登記之服務，其服務角色為擔當見證人之用，若遇到法律糾紛可以成為證人身分，其登記之資料與日期也可以成為證物，一般服務費用最低約2000元起跳。另外也有民間的公證事務所，其服務角色也是擔當見證人之用，公證服務費用約2000元。

     當然著作人也可利用其他管道證明自己的創作日期，如刊登在雜誌刊物上，或在網路上發表(但必須考量資料的遺失或變動可能)。比較穩當可靠的方式還是投稿實體雜誌刊物比較保險。如果你的創作沒有什麼商業價值，即使資料遺失或遭變動也不介意，建議您在知名網路平台上發表即可，例如BLOGGER、FACEBOOK。

專利陷阱1-送件後的專利也有風險

專利陷阱1-申請中後的專利也有風險

    如果你的專利只申請台灣一個國家，而你也不想申請其他國家，在專利送件後，請記得主動公開你的專利，以免將來有人在其他國家申請同樣的專利(在你的專利公告日前申請，也就是在審查期間申請)，導致你的產品無法在他國實施。(若你有其他考量不想太早公開，就必須考慮下述的風險，雖然這種案例發生可能性不高)

CASE STUDY (一):當你已經申請了台灣專利且尚未公告，如果台灣有人在你的審查過程中申請了一個跟你相同內容的專利，可是最後兩件都通過公告了，請問你可以主張後申請的那件專利無效嗎，答案是可以，原因如下:

a. 依台灣專利法第23條規定，後申請案不得取得專利

CASE STUDY (二):當你已經申請了台灣專利且尚未公告，如果大陸有人在你的審查過程中申請了一個跟你一樣的專利，最後兩件都通過公告了，請問你可以舉發掉大陸的那件專利嗎，答案是不行原因有兩點:

a. 舉發證據必須是已經公開的技術(專利送件不等於已經公開，審查通過公告後才算公開)

b. 依大陸專利法第9條規定，專利授予最先申請者，但因為你並沒有在大陸申請專利，無法在大陸主張這個權力

…所以雖然你發明在先，但你的東西並不能賣到大陸去，大陸的那件專利是有效存在的

CASE STUDY (三)的案例是一種特殊情況，要剛好有人在別的國家，拿了一件跟你相同內容的專利，而且又剛好在你的專利公告前送出申請，又剛好你沒有在那個國家申請，通常會產生這種狀況的原因有幾種可能:

a.公司內部有內鬼，員工拿專利跑去別的國家申請

b.公司合夥人拆夥，股東拿專利跑去別的國家申請

c.公司資料外流，其他相關廠商拿專利跑去別的國家申請

d.專利事務所做鬼，將你的專利拿去別的國家申請

e.你的專利是最近的熱門產品，但技術門檻不高，大家都想的出來，所以很有可能大陸有人正在申請跟你一樣的東西

***公開的方式有很多種，你可以在網路上公開(資料有遺失風險、舉證麻煩，必須找人公證表示在網路上看過你公開的資料)，也可以在刊物上公開(比較可靠的方法，證據力強，不須找人公證)

騙證書的黑心專利寫法

騙證書的黑心專利寫法

⌂⌂⌂ 一種狡猾奸詐的專利寫法，刻意為了騙過專利審查委員的眼睛，而產生的一種文字技術，目的只是為了取得專利證書，實質內容其實不堪一擊。

⌂⌂⌂ 在本BLOGGER相關文章已提及一張專利證書並不代表什麼，根據智慧財產法院成立5年來的統計，發明專利經IP法院宣告無效比率：66.95%(約7成的發明專利皆屬無效)

專利黑魔法: 利用文字技術騙過審查委員的眼睛

如果你的情況有以下特徵，就要小心了，你的專利證書可能只是一種利用文字技術暫時騙過審查委員眼睛，而得到的證書。

徵兆:

1.你的專利是不是有申請發明專利，是不是有申請美國專利。

2.你的專利是不是被事務所加了許多元素、許多元件，功能五花八門，越寫越複雜，你給事務所的資料只有一點點，可是卻大贈送，給你一大堆。

3. 專利說明書寫的很難懂，要非常仔細閱讀，連結關係複雜，很多東西都混在一起，層次不分明，邏輯中有邏輯，分類中有分類，感覺像拼裝車，像東拚西湊的大滷麵。

原因:

1.當你申請的是發明專利，因為必須經過實質審查，所以能不能拿到那張證書跟客戶交代，才是事務所的目的，而美國專利一律是發明，所以證書一定要想辦法拿到，至於那張證書有沒有實質效力，不是事務所關心的事情。

2.專利的主要審查依據是新穎性，新穎性不等於商業價值，審查委員只會依新穎性做技術審查，當你的技術特徵為A+B+C具有新穎性的機會很低，但當你的技術特徵為A+B+C+a+b+c+ a₁₊b₂₊c₃，具有新穎性的可能很高，容易拿到專利證書，所以事務所才會給你東加西加，但這麼複雜的組合可能根本沒有任何商業價值。

3.審查委員不是萬能，即使是全世界審查水準最高的美國專利局，美國審查委員一樣會被騙倒，因為世界上的技術何其多，廣大資料海何其多，審查也有一定的時間限制，一個申請案不可能通通仔細研究比對，當然利用文字技術騙倒審查委員的眼睛也不是什麼新鮮事，這就是專利的遊戲規則，我只是在一定的審查基準下給你專利，至於你要鑽制度漏洞是你的事，不管如何專利是要經過法院訴訟才能執行專利權。

4. 騙審查委員的技巧，說穿了就是將技術特徵越寫越多、越寫越小、組合的很複雜，讓審查委員眼花撩亂，讓審查委員一時之間很難找到一樣的前案作比對，因此僥倖獲得專利權，但是這種專利可能在遇到訴訟時就會破功，因為對方陣營會非常仔細地解讀你的專利，抽絲剝繭一一打掉你的專利權，另一種可能就是專利範圍寫的過小，以至於根本不會有人踩到你的專利或是輕鬆迴避成功

(EX: A+B+C+a+b+c+ a₁₊b₂₊c₃ 這麼複雜的技術組合，很難有人剛好跟你一樣)

智慧財產局程度要加強

智慧財產局程度有待加強

***當你拿到智慧財產局發給你的專利證書時，千萬不要高興得太早，千萬不要輕啟訴訟，因為你會敗訴的機率相當高

智慧財產局不知道在審時什麼東西?

根據智慧財產法院成立5年來的統計，於2008/7-2012/6之間的審理案件: 專利原告勝訴比率：11.6% (約只有1成的人會勝訴) 發明專利經法院宣告無效比率：66.95%(約7成的發明專利皆屬無效) 資料來源：智慧財產法院統計室 l  由以上的資料可知，智慧財產局的審查水準相當差，約7成的發明專利被法院宣告無效 l  既然智慧財產局是審查單位，審查水準好像沒有人管，居然高達7成經審查通過公告的專利，最後被宣告無效 l  發明人繳的申請費、審查費，全國納稅人繳的稅，不都白繳了，大家養智慧財產局讓你在那邊亂審一通

智慧財產局還是公家單位

l  因智慧財產局還是公家單位，比照台灣政府單位的水準，你就可以推估智慧財產局的水準也不會太好，通常審查委員的實務設計或製造經驗皆不足，甚至根本沒有任何實務經驗，考試考過了就可以來當審查委員了，再者能力好的工程師會在業界發展還是選擇公家飯，答案很明顯，通常是專業沒念出興趣、不想被操、也不能被操、在業界表現不佳的工程師，跑來當公務員的機會較高 l  審查委員程度不佳，自然無法精準判斷出技術的新穎性、差別性，看不出重點，也不清楚技術原理與應用方式

  

修正檢討還是做錯 :用偷懶的方式解決問題

l  當智慧財產局看到智慧財產法院的統計資料，當然會修改檢討，所以最近對發明專利的審查有變嚴格的趨勢，目的是要降低核准率，但是方法還是不對，程度不佳就用偷懶的方式來解決問題 l  台灣的審查委員最慣用與偷懶的說法，就是找幾篇相關的引證文獻，然後就說你案子的技術特徵”屬於上述引證案的簡單變化、簡單組合，故不具新穎性”，並沒有針對技術特徵或技術思想做出完整邏輯性的分析與比對 l  也就是說，第一次不會很仔細的審核，先拿一些看似相關的前案核駁你再說，用固定的套招方式，先COPY”屬於上述引證案的簡單變化、簡單組合，故不具新穎性”然後貼上，就完成審查了

  

解決辦法 : 聘用具實務經驗的工程師、非用考試掄才

l  找到優秀人才是提升素質、解決問題的唯一辦法 l  真正優秀的工程師不會喜歡八股考試 l  用考試掄才，這種齊頭式平等的方法，只能找到平庸型的人才 l  將應徵過程與評選資料一切透明化 l  評選委員必須寫出評選理由，評選委員的名字必須公開 l  優秀人才一進來，很多問題他們會自動提出、自動解決；而平庸型的人才不會提出問題、也不願面對問題、更不會解決問題、也不想提升自己的程度、都是用應付的心態完成工作。

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國際單位制(SI制)

國際單位制(SI制)

國際單位制之簡介

國際單位制是世界上最普遍採用的標準度量衡單位系統，採用十進制進位系統，其國際縮寫為SI。依據國際度量衡大會（The General Conference on Weights and Measures  法文為Conférence Générale des Poids et Mesures, 簡稱CGPM）重要決定的歷史演變記事，可知國際單位制源起於1790年法國科學院制定之十進位制。

為建立一適合全球所有科學上應用之量測單位系統，1948年第九屆CGPM決議，指示國際度量衡委員會（Comité Internationl des Poids et Mesures, 簡稱CIPM）就如何制定適合米制公約（Convention du Mètre）全體簽署採行的實用度量衡單位制提出建議；1954年第十屆CGPM決議採用「公尺」、「公斤」、「秒」、「安培」、「克耳文」、「燭光」等六個單位作為此實用度量衡單位制的基本單位，此一實用度量衡單位制，經1960年第十一屆CGPM正式命名為國際單位制（Internationl System of Units，法文為Le Système International d'Unités），並簡稱縮寫為SI。

此後在CGPM和CIPM陸續所召開的會議也對SI的原始組織結構作出增補，必要時並且加以修改，以將科學和使用者需求上的突飛猛進納入其中，包括於1971年第十四屆CGPM又決議採用第七個基本單位「莫耳」。

SI制之基本單位 (Base units)

SI在制定時，選定七個相互獨立的基本量，對其單位給予嚴格的理論定義，稱為基本單位。

SI的基本單位包括公尺、公斤、秒、克耳文、安培、燭光、莫耳等七種。表1中列出SI七個基本單位，每種單位相互之間互為獨立關係。

             表1、SI基本單位

量之名稱	單位	代  號 【中文代號】	定義
長　　度	公　　尺	m （公尺）	光在真空中於1/299792458秒內行進的距離定義為1公尺
質　　量	公　　斤	kg （公斤）	存放於法國巴黎國際度量衡局的「國際公斤原器」定義為1公斤。
時　　間	秒	s （秒）	銫133原子基態的兩個超精細能階間躍遷對應輻射的8,192,631,770個週期的持續時間定義為1秒
電　　流	安　　培	A (安培)	在真空中相距為1米的兩根無限長平行直導線，通以相等的恆定電流，當每米導線上所受作用力為2×10−7N時，各導線上的電流為1安培
熱力學溫度	克 耳 文	K （克耳文）	水的三相點與絕對零度相差的1⁄273.16定義為1開爾文
物    量	莫　　耳	mol （莫耳）	1. 所含基本微粒個數與0.012公斤碳-12中所含原子個數相等的一系統物質的量定義為1莫耳 2. 使用摩爾時，應指明基本微粒，可以是分子、原子、離子、電子或其他基本微粒，也可以是基本微粒的特定組合體。
光 強 度	燭　　光	cd （燭光）	給定一個頻率為 540.0154×1012 Hz 的單色輻射光源（黃綠色可見光）與一個方向，且該輻射源在該方向的輻射強度為 1/683 W/sr，則該輻射源在該方向的發光強度為1燭光。

SI制之導出單位（Derived units）

導出單位係按物理量的關係式，以代數的形式，由基本單位或其他單位表示。導出單位的代號主要經由乘法與除法數學運算式獲得。

導出單位又可分為下列三種型態：

1. 以基本單位表示之導出單位（如表2所示）

2. 以特定名稱或代號表示之導出單位（如表3所示）

3. 以基本單位及特定名稱或代號表示之導出單位（如表4所示）

表2、以基本單位表示之導出單位

編號	量之名稱	單位名稱	代  號 【中文代號】
2.1	面　　積	平方公尺	m2 （平方公尺）
2.2	體　　積	立方公尺	m3 （立方公尺）
2.3	速　　度	公尺每秒	m/s （公尺/秒）
2.4	加 速 度	公尺每平方秒	m/s2 （公尺/平方秒）
2.5	密　　度	公斤每立方公尺	kg/m3 （公斤/立方公尺）
2.6	比　　容	立方公尺每公斤	m3/kg （立方公尺 /公斤）
2.7	電流密度	安培每平方公尺	A/m2 （安培/平方公尺）
2.8	磁場強度	安培每公尺	A/m （安培/公尺）
編號	量之名稱	單位名稱	代  號 【中文代號】
2.9	物量濃度	莫耳每立方公尺	mol/m3 （莫耳/立方公尺 ）
2.10	亮　　度	燭光每平方公尺	cd/m2 （燭光/平方公尺）
2.11	折 射 率	1  (數值)	1
2.12	體積流率	立方公尺每秒	m3/s （立方公尺/ 秒）
2.13	質量流率	公斤每秒	kg/s （公斤/秒）
2.14	動 黏 度	平方公尺每秒	m2/s （平方公尺 / 秒）

表3. 以特定名稱或代號表示之導出單位

編號	量之名稱	單位名稱	代  號 【中文代號】
3.1	平 面 角	弳	rad （弳）
3.2	立 體 角	立　　弳	sr （立弳）
3.3	頻　　率	赫	Hz （赫）
3.4	力	牛　　頓	N （牛頓）
3.5	壓　　力	帕 斯 卡	Pa （帕斯卡）
3.6	功	焦　　耳	J （焦耳）
3.7	功    率	瓦　　特	W （瓦特）
3.8	電 荷 量	庫　　侖	C （庫侖）
3.9	電 位 差	伏　　特	V （伏特）
3.10	電　　容	法　　拉	F （法拉）
編號	量之名稱	單位名稱	代  號 【中文代號】
3.11	電　　阻	歐　　姆	Ω （歐姆）
3.12	電　　導	西　　門	S （西門）
3.13	磁 通 量	韋　　伯	Wb （韋伯）
3.14	磁通密度	特 士 拉	T （特士拉）
3.15	電　　感	亨　　利	H （亨利）
3.16	攝氏溫度	攝　　度	℃ （攝度）
3.17	光 通 量	流　　明	lm （流明）
3.18	光 照 度	勒 克 斯	lx （勒克斯）
3.19	活    度 （放射性）	貝　　克	Bq （貝克）
3.20	吸收劑量	戈　　雷	Gy （戈雷）
3.21	比釋動能	戈　　雷	Gy （戈雷）
3.22	等效劑量	西　　弗	Sv （西弗）

註：3.19～3.22係用於游離輻射之導出單位及其專有名詞

表4、以基本單位及特定名稱或代號表示之導出單位

編號	量之名稱	單位名稱	代  號 【中文代號】
4.1	黏    度	帕斯卡秒	Pa‧s （帕斯卡‧秒）
4.2	力　　矩	牛頓公尺	N‧m （牛頓‧公尺）
編號	量之名稱	單位名稱	代  號 【中文代號】
4.3	表面張力	牛頓每公尺	N/m （牛頓/公尺）
4.4	角 速 度	弳 每 秒	rad/s （弳/秒）
4.5	角加速度	弳每平方秒	rad/s2 （弳/平方秒）
4.6	熱 通 量 密  　度	瓦特每平方公尺	W/m2 （瓦特/平方公尺）
4.7	熱 容 量	焦耳每克耳文	J/K (焦耳/克耳文)
4.8	比 熱 容	焦耳每公斤克耳文	J/(kg‧K) 焦耳/(公斤‧克耳文)
4.9	比　　能	焦耳每公斤	J/kg （焦耳/公斤）
4.10	導熱係數	瓦特每公尺克耳文	W/(m‧K) 瓦特 /（公尺‧克耳文）
4.11	能量密度	焦耳每立方公尺	J/m3 （焦耳/立方公尺）
4.12	電場強度	伏特每公尺	V/m （伏特/公尺）
4.13	電量密度	庫侖每立方公尺	C/m3 （庫侖/立方公尺）
4.14	電通量密度	庫侖每平方公尺	C/m2 （庫侖/平方公尺）
4.15	電 容 率	法拉每公尺	F/m (法拉/公尺)
4.16	磁 導 率	亨利每公尺	H/m （亨利/公尺）
4.17	莫 耳 能	焦耳每莫耳	J/mol （焦耳/莫耳）
4.18	莫耳熱容量	焦耳每莫耳克耳文	J/(mol‧K) 焦耳/ (莫耳‧克耳文)
4.19	曝    露 (c及γ射線)	庫侖每公斤	C/kg (庫侖/公斤)
4.20	吸收劑量率	戈雷每秒	Gy/s (戈雷/秒)
編號	量之名稱	單位名稱	代  號 【中文代號】
4.21	輻射強度	瓦特每立弳	W/sr (瓦特/立弳)
4.22	輻射亮度	瓦特每平方公尺立弳	W/(m2‧sr) 瓦特/(平方公尺‧立弳)
4.23	曝 露 率	庫侖每公斤秒	C∕(kg‧s) 庫侖/(公斤‧秒)
4.24	等效劑量率	西弗每秒	Sv/s (西弗/秒)

參考資料來源: 1.經 濟 部 標 準 檢 驗 局